طیف سنج

با استفاده از فناوری تجزیه و تحلیل فلورسانس پرتو ایکس پراکنده انرژی، طیف سنج Xrf AL -NP -5010A قادر به اندازه گیری عناصر مختلف در ماده به طور همزمان است. آنالایزر فلزی Xrf را می توان برای اندازه گیری هر عنصر چندگانه از Na تا U با توجه به نیازهای کاربرد کاربر پیکربندی کرد. طیف سنج edxrf را می توان به طور گسترده در حفاظت از محیط زیست، باستان شناسی، مصالح ساختمانی، دستورالعمل RoHS و سایر صنایع مورد استفاده قرار داد. طیف سنج Edxrf انتخاب ایده آلی برای کنترل کیفیت برای شرکت است.

طیف‌سنج فلورسانس پراش پرتو ایکس با طول موج (WDXRF) محصولی با تکنولوژی بالا است که توسط شرکت ما بر اساس تجربه و ثمرات تحقیق و توسعه داخلی در ابزار مشابه در طول سال‌ها توسعه یافته است و با جذب فناوری پیشرفته بین‌المللی، شاخص‌های عملکرد فنی به سطح محصولات مشابه بین المللی آنالایزر xrf در دانشگاه ها و موسسات تحقیقاتی نیز مورد استفاده قرار می گیرد.

ضخامت سنج پوشش فلورسانس اشعه ایکس یک ابزار تحلیلی است که از فناوری تجزیه و تحلیل فلورسانس پرتو ایکس پراکنده انرژی برای اندازه گیری چندین عنصر به طور همزمان استفاده می کند. می توان آن را برای تجزیه و تحلیل و تعیین هر تعداد عنصر از Na تا U با توجه به نیازهای برنامه کاربر پیکربندی کرد.

آنالایزر فلورسانس اشعه ایکس پراکنده با طول موج یک محصول با تکنولوژی بالا است که توسط شرکت ما توسعه یافته است، که خلاصه ای از تجربیات و درس های آموخته شده از توسعه این نوع ابزار در چین در طول سال ها است و فناوری های بین المللی پیشرفته را جذب و ارجاع می دهد. از طریق تحقیق و توسعه صنعتی عمیق، همه شاخص های عملکرد فنی به سطح محصولات مشابه بین المللی رسیده اند.

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF) یک روش آنالیز جهانی پیشرفته برای تعیین عنصری مواد مختلف است. XRF آنالیزادور با آماده سازی نمونه ساده، طیف گسترده ای از عناصر اندازه گیری، دقت بالا، تکرارپذیری خوب، سرعت اندازه گیری سریع (30 ثانیه تا 900 ثانیه)، بدون آلودگی محیطی و بدون آسیب به نمونه ها مشخص می شود.