اصل پراش سنج اشعه ایکس
طول موج پرتوهای ایکس مشابه فاصله بین صفحات اتمی داخل کریستال است و کریستال می تواند به عنوان یک شبکه پراش فضایی برای پرتوهای ایکس عمل کند. هنگامی که پرتوی از اشعه ایکس به یک جسم تابیده می شود، توسط اتم های موجود در جسم پراکنده می شود و هر اتم امواج پراکنده تولید می کند. این امواج با یکدیگر تداخل پیدا می کنند و در نتیجه پراش می شوند. برهم نهی امواج پراش باعث افزایش شدت پرتوها در جهات خاص و کاهش در جهات دیگر می شود. با تجزیه و تحلیل نتایج پراش می توان ساختار بلوری را بدست آورد. موارد فوق یک پیش بینی علمی مهم است که توسط فیزیکدان آلمانی M. فون لاو در سال 1912 ارائه شد که بلافاصله توسط آزمایشات تأیید شد. در سال 1913، فیزیکدانان بریتانیایی WH براگ و WL براگ، بر اساس کشف لاو،
برای مواد کریستالی، زمانی که کریستال آزمایش شده در زاویه متفاوتی از پرتو فرودی قرار دارد، آن صفحات کریستالی که با پراش براگ ملاقات می کنند، شناسایی می شوند که در الگوی XRD به عنوان قله های پراش با شدت های پراش متفاوت منعکس می شوند. برای مواد آمورف، از آنجایی که ترتیب دوربرد آرایش اتمی در ساختار بلوری وجود ندارد، اما نظم کوتاه بردی در چند محدوده اتمی وجود دارد، طیف XRD مواد آمورف، برخی از قله های پراکنده مانتو است.
پراش اشعه ایکس از اصل پراش برای تعیین دقیق ساختار بلوری، بافت و تنش مواد و انجام دقیق تجزیه و تحلیل فاز، آنالیز کیفی و تحلیل کمی استفاده می کند. به طور گسترده در زمینه هایی مانند متالورژی، نفت، مهندسی شیمی، تحقیقات علمی، هوا فضا، آموزش، تولید مواد و غیره استفاده می شود.
